測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
重復精度
總放大倍率
物方視場
工作距離
光柵尺解析度
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新聞資訊
News時間：06-07 2023 來自：祥宇精密
隨著工業生產的不斷發展，對于工件尺寸、形狀和位置等參數的精度要求越來越高。在這種背景下，測量工具得到了廣泛的應用，具有較高的測量精度和穩定性，被廣泛應用于工業生產中。本文將從測長儀的原理、測量方法以及應用前景等方面對測長儀進行探討，以期能夠更好地利用測長儀對工件參數進行全面檢測和測試。如何利用測長儀對工件尺寸、形狀和位置等參數進行全面檢測和測試？
一、測長儀的原理
測長儀是一種通過測量物體長度實現測量的儀器。它通常由感應頭、顯示器、微處理器和控制電路等組成。測長儀的測量原理主要有光學式、機械式、電子式和超聲式等多種類型。其中，電子式測長儀由于其精度高、速度快、易于操作等優點而受到廣泛關注。
二、測長儀的測量方法
在使用測長儀進行測量時，首先需要根據被測物體的形狀和尺寸選擇相應的探頭。然后將探頭與被測物體接觸，并通過顯示器讀取測量結果。一般情況下，測長儀可采用絕對式和相對式兩種測量方法。
絕對式測量法是指將探頭放到被測物體上時，測長儀自動將零點歸零，然后再進行測量。這種方法適用于單次測量較少的情況。
相對式測量法是指在每次測量前需要手動將工具的零點調整到刻度盤的零位，使其能夠準確測量。這種方法可以實現多次測量，并且保證測量精度。
參考文獻：
[1] 李凱. 測長儀在精密檢測中的應用[J]. 精密制造技術,2013(4):1-3.
[2] 張永輝. 數字測量技術及其發展趨勢[J]. 機械設計與制造,2014(5):107-109.
[3] 王永剛. 測長儀在光學加工中的應用[J]. 光學儀器,
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